专利技术的出现，标志FT-IR光学平台的诞生，使光学仪器“平台化”，“积木化”的理想变为现实；它第一次为用户提供了这样一种选择，在同一光学平台上实现： 
从常规压片 至 所有的联机试验； 
从实验室分析 至 高级研究； 
从普通应用领域 至 特殊领域的专门应用。
1.信噪比：36,000:1（峰、峰值，一分钟测试）
2.采样速率：80张谱／秒（16cm-1分辨率）
3.测量谱区：25,000-20cm-1
4.步进扫描－时间分辨率：5ns
5.分辨率：0.5cm-1,可选0.2cm-1