NORAN System SIX X-射线微区分析系统包括了高通量采集和数字光束控制电子学系统，和为了所有的采集，分析和报告的单独统一的软件程序。
对于传统的X-射线微区分析工作，系统六的功能在定性定量的谱分析中是最好的。自动的谱鉴定程序 — 精确度在工业领域中是最高的，还有易用的谱操作和电子鉴定工具，新的X-射线元素分布图和线扫描。
强有力的全谱图像和COMPASS软件是NORAN 能谱仪的专利技术，采集的每个像素点均有完整的经过死时间校正的能谱图，创造了一个完整的档案报告。谱图像包括了一整套微区分析工具。一次采集样品数据你可以在任何时间反复的对样品进行分析，不需把样品再次放回电镜中。 
COMPASS 自动化学组分分析，是根据谱图像中个元素峰值比例提取的原理。这个统计分析程序输出的图像和谱代表每一个“化学组分”分布。因为COMPASS是完全自动的，它不需用户的任何输入，而且时常会有意想不到的结果。
产品特点
飘移补偿选项
自动分析选项
化学粒子特征分析软件选项
定量的元素面分布和多元素线扫描
模拟谱峰的鉴定
一个用户界面或者窗口适合所有的应用方式
项目开发器可用于容易管理各个分析项目的数据和图谱
数字脉冲处理器和数字电子束控制电子学系统
高通量的采集，包括电镜控制参数，分析数据的精确结果
采集条件的自动的最佳选择
谱峰的自动校正在采谱和分析过程中自动完成
点击Word 和powerpoint 自动转出数据和谱图报告
数据被储存在工业标准的格式