为各种工业维护应用场合带来了划时代的性能 
Fluke Ti20 在热成像领域中树立了卓越性价比的光辉典范，显著降低了用户利用这一强大技术的门槛。 Ti20 设计用于众多的工业应用场合，为精通装置及设备的服务和维护人员带来了强大的热成像功能。 
垂手可得的热成像 
凭借单手控制的“一指通”操作和直观的屏显指南，Ti20 热像仪非常易于使用，不需专业培训便可进行准确的测量。只需指向目标，对焦仪器，它就会自动调整温度范围来显示清晰鲜明的图像。 一旦用户扣动扳机，便会存储图像及相关的测量数据。 通过随附的软件，用户可以随心更改主要图像参数，从而优化图像和抽取最多的细节，而无需返回工厂车间重新扫描。
产品特点
安全方便地识别问题并缩短意外的停机时间 
随时提供非接触式的温度图像，快速确定热点 
全面的辐射范围实现详细的温度分析和跟踪关键组件 
配备 InsideIR 软件的综合解决方案允许用户方便快速地分析、报告和设定路线 
宽大彩色液晶显示屏显示清晰亮丽的图像以及数据和路线指示
专为工业用途打造的卓越性能 
革新的探测器技术提供清晰的热图像且准确地测量温度 
350 °C 的测量上限涵盖了众多的工业应用场合 
防尘和防潮的优异保护性能（符合 IP54 标准）可以从容应对各种恶劣的工业环境 
每次电池充电均可保证连续 3 小时的操作
操作方便而简单 
重量均衡的人性设计非常适于手持 
简单方便的单手控制指点、拍摄和图像捕获操作 
清楚明了的分步路线指示有助于快速进行检查
综合全面的解决方案实现超低的拥有成本 
随附的 InsideIR 软件允许维护小组的任何成员不限次数的使用（无需支付软件许可费用） 
配备所有必要的附件和专业应用程序培训资料，确保快速收回投资成本

热参数	探测器类型： 硅探测器，非制冷焦平面 准确度： ±2% 或 ±2ºC（取大者） 准确度（-10 至 0 C）： +/- 3ºC 重复性： ±1% 或 ±1ºC（取大者） NETD： 200 mK 温度显示分辨率： 0.1 ºC
光学/红外	光谱范围： 7.5-14 微米 目标瞄准： 单波长激光点（符合 lEC 2 类及 FDA II 类要求） 光学分辨率： 75:1 测量圆点最小直径： 8.1 mm（距离为 61cm 时） 视场 (FOV)： 20º 水平 x 15º 垂直
控制	焦点： 可聚焦，15 cm 至无穷远 温标： 可选择 ºC 色板： 灰色、反灰色、蓝红、铁红、彩虹、热金属、高对比度、蓝红、经色、琥珀色 测量模式： 可选择自动或手动 激光开/关： 随附 增益控制： 随附 级别控制： 随附 LCD 背光： 可选择亮或暗
操作	可调辐射系数： 0.10 至 1.00，步长 0.01 液晶显示： TFT 技术，适于室内及室外使用，70.5 mm x 53.5 mm 反射背景温度： -50 至 905ºC 操作环境温度： -10 至 50ºC 相对湿度： 10 至 90% 不结露 存放温度： -25 至 70ºC [不带电池] 存储能力： 100 张图像 激光开启图标： 随附 电池电量不足图标： 随附 测量模式图标： 随附 热分析软件： InsideIR（随附） PC 软件操作系统： Microsoft® Windows 2000® 或 Windows XP®
电气	电源： 充电电池组（随附） 电池寿命： 至少连续使用 3 小时 数据传输： USB 接口，50 幅图像的总传输时间仅为 25 秒 存储设备： 快速存储器
其它	三脚架（6.35 mm (1/4) 20 统一标准螺纹）   重量（包括电池）： 1.2 kg 保修： 1 年 产地： 美国 撞击防护： 半正弦波，11 ms，30 g 峰值，符合 mil-prf-28800f 振动防护：   - 随机 6G EMC： EN 61326-1