产品描述
C测试仪
  • 产品编号:HK-013555
  • 产品名称:C测试仪
  • 产品型号:3504-50
  • 产品铭牌:HIOKI(日置)
  • 所属类别:安规测试仪
  • 生产产地:日本
  • 浏览次数:2009
  • 网上售价:特殊规格~请来电咨询 VIP会员价:请登陆
高速测量2ms 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断 对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能 3504-60/-50用B

产品介绍
高速测量2ms
能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误,提高成品率
 规格与参数
测量参数
Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
测量范围
C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本确度
(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B~Eは各系数
测量频率
120Hz, 1kHz
测量信号电平
恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻
5Ω(开路端子电压模式,上述测量范围以外)
显示
发光二级管 (6行表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间
典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能
4端子控制检测功能(仅限3504-60),BIN测量(除去3504-40),触发同时输出,储存测量条件,比较测量值的场强,平均值功能,Low-C抑制功能,鸣叫功能,控制用输出入(EXT.I/O),RS-232C界面(标准装备),GP-IB接口(3504-40除外)
电源
AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大110VA
体积及重量
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件
电源线×1,预备电源保险丝×1,接地适配器×1
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