产品描述
C测试仪
  • 产品编号:HK-013554
  • 产品名称:C测试仪
  • 产品型号:3504-40
  • 产品铭牌:HIOKI(日置)
  • 所属类别:安规测试仪
  • 生产产地:日本
  • 浏览次数:150
  • 网上售价:特殊规格~请来电咨询 VIP会员价:请登陆
高速测量2ms 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断 对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能 3504-60/-50用B

产品介绍
高速测量2ms
能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误,提高成品率
 规格与参数

测量参数

Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ

测量范围

C:0.9400pF20.0000mF
D:0.00001
1.99000

基本确度

(代表值)C:±0.09%rdg.±10dgt.,D:±0.0016
测定确度=基本确度×B×C×D×E,BEは各系数

测量频率

120Hz,1kHz

测量信号电平

恒定电压模式:100mV(仅限3504-60)500mV,1V
测量范围:
CV100mV:
170μF量程(测量频率1kHz),1.45mF量程(测量频率120Hz)
CV500mV:
170μF量程(测量频率1kHz),1.45mF量程(测量频率120Hz)
CV1V:
70μF量程(测量频率1kHz),700μF量程(测量频率120Hz)

输出电阻

(开路端子电压模式,上述测量范围以外)

显示

发光二级管(6行表示,满量程计算器根据量程而定)

测量时间

典型值:2.0ms1kHz,FAST
测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

机能

4端子控制检测功能(仅限3504-60),BIN测量(除去3504-40),触发同时输出,储存测量条件,比较测量值的场强,平均值功能,Low-C抑制功能,鸣叫功能,控制用输出入(EXT.I/O),RS-232C界面(标准装备),GP-IB接口(3504-40除外)

电源

AC100/120/220/240V±10%(可选择),50/60Hz,最大110VA

体积及重量

260W×100H×220Dmm,3.8kg

附件

电源线×1,预备电源保险丝×1,接地适配器×1

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